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回收 X熒光edx-3600H光譜儀 

回收 X熒光edx-3600H光譜儀
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edx3600h
X熒光edx-3600H光譜儀，,融匯全球*的合金分析技術(shù)，配備合金測試效果的智能真空系統(tǒng)，利用低能光管配合真空測試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測效果。 詳細(xì)介紹
標(biāo)準(zhǔn)配置

合金測試高效超薄窗X光管

超薄窗大面積的原裝進(jìn)口SDD探測器

信噪比增強(qiáng)器 SNE

光路增強(qiáng)系統(tǒng)

高信噪比電子線路單元

內(nèi)置高清晰攝像頭

自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片

自動穩(wěn)譜裝置

三重安全保護(hù)模式

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

多變量非線性回歸程序

整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證

90mm×70mm的液晶屏

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

樣品腔體積：Φ320mm×100mm

重量：65Kg

X熒光edx-3600H光譜儀技術(shù)指標(biāo)

測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）

元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）

同時(shí)分析元素：一次性可測幾十種元素

測量時(shí)間：60秒-200秒

能量分辨率為：（140±5）eV

管壓：5KV-50KV

管流：50uA-1000uA

X熒光edx-3600H光譜儀性能特點(diǎn)

高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國際先進(jìn)水平

針對合金的測試而開發(fā)的專用配件

SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比

信噪比增強(qiáng)器（SNE），提高信號處理能力25倍以上

低能X射線激發(fā)待測元素，對Pb、S等微含量元素激發(fā)效果好

智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測試的范圍

自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性；

高信噪比的電子線路單元

針對不同樣品自動切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣

多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制；

內(nèi)置高清晰攝像頭

液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

應(yīng)用領(lǐng)域

檢測以銅合金、鐵合金、鎳合金為主的任何合金類產(chǎn)品

EDX3600H合金光譜儀是天瑞儀器公司為合金測試專門開發(fā)的儀器類型。

具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點(diǎn)。

同時(shí)具有合金測試、合號分析、有害元素分析（ROHS分析儀），土壤分析儀（手持式土壤重金屬分析儀） 、貴金屬分析等功能。

檢測樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。